硬體設(shè)備
半自動 LED wafer/chip 點(diǎn)測設(shè)備
漏電流測試模組
電源量測單元
光學(xué)測試模組
ESD 測試模組 (選配)
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統(tǒng)是一組全新獨(dú)特的量測 LED 全光 通量之自動化測試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測 試生產(chǎn)線中,常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測方式 (見圖1)。然而,傳統(tǒng)的方式存在 一些缺點(diǎn),例如:準(zhǔn)確度較低、訊噪比較低、測 試時間較長等,以致于導(dǎo)入LED 的裸晶與晶粒生 產(chǎn)線時會發(fā)生問題。
致茂研發(fā)出一種全新、高速且高精確度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。 這種創(chuàng)新的量測 方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通 量,也明顯的改善提升了量測精確度。
在光學(xué)量測方面,主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)與元件取得精確且穩(wěn)定 快速之?dāng)?shù)據(jù);在機(jī)構(gòu)方面,58173 搭載一個6吋 的晶片載盤與校正基座,提供使用者一個完整 的校正與測試平臺;在電性測試方面,58173 則 具備完整之電源量測單元,無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性,均可于一 次滿足使用者的測試需求。長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司作為臺灣Chroma公司湖南區(qū)域的總代理,以下為長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司為您簡單介紹Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統(tǒng)的技術(shù)參數(shù)及產(chǎn)品特點(diǎn),如果您想對Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統(tǒng)有更多的了解,歡迎致電長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司,聯(lián)系電話:0731-84284278 84284378。更多產(chǎn)品信息歡迎點(diǎn)擊:www.91zenqing.cn。長沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司。
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統(tǒng)主要特色:
Chroma Model 58173 LED 全光通量自動測試系統(tǒng)提供全方位電性測試 (200V/2A) ,可滿足HV及HP測試
Chroma大面積光偵測器(量測角度可達(dá)128度)
半自動精密LED wafer/chip點(diǎn)測設(shè)備
特制Edge Sensor具有點(diǎn)測針壓穩(wěn)定,無疲乏與針壓變動問題
機(jī)械視覺定位系統(tǒng),縮短人工操作時間
自動抽測功能
彈性調(diào)整的軟體操作界面
快速芯片掃描系統(tǒng)
自動破片掃描演算法
遮光罩設(shè)計(jì),杜絕背景光干擾
即時顯示點(diǎn)測資料分布圖
完善的量產(chǎn)測試統(tǒng)計(jì)報表及分析工具